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儀器中文名稱: X射線熒光光譜儀 儀器所在城市: 長沙市 儀器型號規(guī)格: primus Ⅱ 生產(chǎn)廠商: 日本理學 國別: 日本 購置日期(年): 2009-9-1 使用日期(年): 2009-10-1 主要技術(shù)指標: 檢出限:0.0003%(Cr) 示值誤差:4.3*10-6 測量重復性:0.005% 綜合穩(wěn)定性:(0.04%-0...
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儀器中文名稱: X射線熒光光譜儀 儀器所在城市: 長沙市 儀器型號規(guī)格: primus Ⅱ 生產(chǎn)廠商: 日本理學 國別: 日本 購置日期(年): 2009-9-1 使用日期(年): 2009-10-1 主要技術(shù)指標: 檢出限:0.0003%(Cr) 示值誤差:4.3*10-6 測量重復性:0.005% 綜合穩(wěn)定性:(0.04%-0.05%) 特別快的分析速度 :2秒鐘一個元素 主要附件及功能: X熒光光譜分析 粉末樣品分析 融片定量分析 定性分析 本單位該儀器主要應用領域:地質(zhì)礦產(chǎn) 儀器負責人: 肖燕 電話: 18975134808 E-mail: [email protected] 檢測項目: X熒光光譜分析 粉末樣品分析 融片定量分析 定性分析 收費標準: 面議
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